-扩大您对半导体测试应用的想像

-从前端制程溶液奈米级监测到符合AIoT应用的半导体测试

台湾桃园2018年9月5日电/美通社/--致茂电子在半导体测试领域拥有众多产品线，从研发至量产阶段所需之设备，包括ATE大型测试系统、IC分选机以及PXI/PXIe小型化测试平台，皆有完整相对应产品提供客户最适合的选择，致茂集团更增加半导体前端制程的溶液监测与可符合趋势应用的AIoT连接测试解决方案。今年于SEMICON Taiwan将会实机展出SuperSizer溶液奈米粒子监测系统，现场可亲自体验鹰眼级的测试设备。

鹰眼级SuperSizer溶液奈米粒子监测系统

半导体制程技术以极快的速度进步到10奈米、7奈米线宽，在不久的将来更将到5奈米甚至于3奈米。影响制程良率甚钜的奈米粒子监控技术现有技术只能勉强监控大于20奈米的粒子，远远不及产线需求。致茂集团旗下的兆晟奈米科技推出制程良率改善利器SuperSizer奈米粒子监测系统，提供客户对制程液体里小于20奈米的粒子大小及分布，并具有24小时即时监控的能力，能有效防范奈米缺陷形成于未然，大幅改善良率。

专为智慧连网所需的SoC测试系统

随着智慧连网家庭市场的发展，要让住家变得更聪明、更方便，关键在于人工智慧(AI)资料分析技术、大数据(big data)的统计、语音(Audio)辨识系统、以及提升家庭网路连线的技术与安全性。致茂电子近年积极发展专为智慧家庭生态系统所需的SoC晶片的测试设备，持续推出整合性更高的量测解决方案，以提供最低的测试成本且满足复杂SoC的测试应用需求。

HDAVO(High Density Audio Video Option)高性能混和讯号解决方案，为针对语音(Audio)辨识系的SoC所提供的高效能、高通道、高平行数的选购模组，拥有可同时输出的8(16)个差动源模组(AWG)和同时接收的8个差动测量模组(DGT)，且在每一个差动源模组(AWG)上能提供高达400Msps的取样频率和在每一个差动测量模组(DGT)上能提供高达250Msps的取样频率，具有高规格、低成本和多功能等优势，甚至能因应未来5G基频晶片所需的I/Q讯号的产生与开发导入。搭配CRISPro软体套件，让使用者可以用图形化介面(GUI)或程式语言做测试程式的开发和除错(debug)，让使用者能更快完成程式的开发与导入量产。

IoT连接测试解决方案

Adivic MP5806 RF ATE测试方案，为致茂集团旗下的汇宏科技产品，针对Chroma半导体测试设备(VLSI/SoC测试系统)，客户在既有的数位/类比/混合讯号IC应用下，皆可经由选配添购Adivic MP5806，将测试设备扩充为俱备完整的射频晶片测试方案，可支援包含NB-IoT、GPS/BeiDou、Wi-Fi、Bluetooth与Tuner等各主要物联网(IoT)通讯标准，其所内含的10MHz~6GHz全频域覆盖之超高频宽VSG/VSA模组，更可泛用于未来各式无线通讯标准。

具备ATE功能的PXIe数位I/O卡

Chroma 33010为具有自动测试系统(ATE)功能的PXIe架构PE card，除传统ATE测试系统（Chroma 3380D-256通道、Chroma 3380P-512通道、Chroma 3380-1024通道）外，Chroma 33010更符合PXI测试方案发展应用之趋势及需求，以因应未来更小IC通道及愈趋复杂功能之趋势，尤其在IoT及汽车电子IC测试上，PXI/PXIe架构在半导体测试无论在应用多变和弹性上都有一定优势。应用范围包含微控制器(MCU)、微机电(MEMS)、射频IC(RF IC)及电源IC(PMIC)等测试方案。

SEMICON Taiwan(9月5-7日)，致茂电子将于台北南港展览馆一馆（摊位号：K2785）展出最新的半导体测试解决方案，我们也将提供客制化半导体/IC测试解决方案以满足您的特殊需求。我们相信，您将会有全新的体验与意想不到的收获。有您的支持，致茂才能更加茁壮，期待在本年度盛会中与您见面。